Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Охрана труда
Охрана труда - система обеспечения безопасности жизни и здоровья работников в процессе трудовой деятельности, включающая ...
Оптимальные условия труда
Оптимальные условия труда - предпосылки для поддержания высокого уровня работоспособности (Руководство P 2.2.2006-05).
Объективное исследование
Объективное исследование - беспристрастный, спокойный, лишенный пристрастия и предвзятости. Объективное отношение. Объективный ...
Дискразия
Дискразия (dyscrasia) - аномальное состояние тела или какой-либо его части (чаще всего связанное с его аномальным развитием или ...
Вредный производственный фактор
Вредный производственный фактор - производственный фактор, воздействие которого на работника может привести к его заболеванию ...
Эпидемический процесс
Эпидемический процесс - это распространение инфекционных болезней среди людей.
