Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Объективное исследование
Объективное исследование - беспристрастный, спокойный, лишенный пристрастия и предвзятости. Объективное отношение. Объективный ...
Здоровье
Здоровье - это состояние полного физического, духовного и социального благополучия, а не только отсутствие болезней или ...
Дискразия
Дискразия (dyscrasia) - аномальное состояние тела или какой-либо его части (чаще всего связанное с его аномальным развитием или ...
Ятрогения
Ятрогения (от греч. iatros - врач и genes - порождающий) - неблагоприятное изменение психического состояния вплоть до неврозов, ...
Эпидемия
Эпидемия (от греч. epidemia, epi - на, среди и demos - народ) - распространение какой-либо инфекционной болезни человека, ...
Штамм
Штамм (от нем. stamm - ствол, основа) - чистая культура микроорганизмов, выделенных из определенного источника и отличающихся ...
