Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Фактор риска
Фактор риска (riskfactor) - характерный признак, такой, как привычка человека (например, курение) или воздействие ...
Рабочее время
Рабочее время - время, в течение которого работник в соответствии с правилами внутреннего трудового распорядка и условиями ...
Дискразия
Дискразия (dyscrasia) - аномальное состояние тела или какой-либо его части (чаще всего связанное с его аномальным развитием или ...
Экологический риск
Экологический риск - анализ заболеваемости населения, наложенный на демографическую структуру и социальные аспекты.
Шумовая болезнь
Шумовая болезнь - общее заболевание организма с преимущественным поражением слуха, центральной нервной и сердечно-сосудистой ...
Штамм
Штамм (от нем. stamm - ствол, основа) - чистая культура микроорганизмов, выделенных из определенного источника и отличающихся ...
