Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Фактор риска
Фактор риска (riskfactor) - характерный признак, такой, как привычка человека (например, курение) или воздействие ...
Опасный производственный фактор
Опасный производственный фактор - производственный фактор, воздействие которого на работника может привести к его травме (ст. ...
Действие мутагенное
Действие мутагенное - влияние факторов, вызывающих изменение генотипа как в естественных, так и в искусственно созданных ...
Вредный производственный фактор
Вредный производственный фактор - производственный фактор, воздействие которого на работника может привести к его заболеванию ...
Эпидемический очаг
Эпидемический очаг - место пребывания источников инфекции с прилегающей территории, в пределах которой в конкретной обстановке ...
Экзотические болезни
Экзотические болезни - болезни, не свойственные данной территории, завезенные из других стран.
